An Efficient Algorithm to Selectively Gate Scan Cells for Capture Power Reduction
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- 資料識別：
- A11039738
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- Rau， Jiann-chyi Wu， Chung-lin Wu， Po-han
- 主題與關鍵字：
- Clock gating Scan test Low power scan test Full-scan testing Design for testability Yield loss
- 描述：
- 來源期刊:Tamkang Journal of Science and Engineering
- 卷期:14:1 2011.03[民100.03]
- 頁次:頁39-48
- 日期：
- 20110300
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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