三維堆疊晶片組裝製程技術及細間距銲錫微凸塊接點之可靠性評估(上)

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A11038138
資料類型:
期刊論文
著作者:
詹朝傑(Zhan, C. J.) 莊敬業(Juang, J. Y.) 林育民(Lin, Y. M.) 黃昱瑋(Huang, Y. W.) 陳泰宏(Chen, T. H.)
主題與關鍵字:
晶片對晶圓接合 銲錫微凸塊 晶片堆疊 可靠度特性 電遷移 Chip-on-wafer bonding Solder micro bump Chip stacking Reliability characterization Electromigration
描述:
來源期刊:工業材料
卷期:297 2011.09[民100.09]
頁次:頁67-74
日期:
20110900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

飼糧中黃麴毒素及類胡蘿蔔素對土番鴨腹...
傳統骨科中藥材骨碎補對骨母細胞之生理...
IC光阻材料技術發展
洛神賦圖:一個傳統的形塑與發展
戒嚴時期《國魂》月刊所刊登的禁書
撥號選接器監測與管理系統之發展