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真空幫浦抽氣性能檢測技術於半導體及光電產業之應用
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後設資料
資料識別:
A11036433
資料類型:
期刊論文
著作者:
謝汎鈞(Hsieh, Fan-chun) 林炳宏(Lin, Ping-hung) 呂日清(Lu, Jih-ching)
主題與關鍵字:
真空幫浦 抽氣原理 半導體 光電產業
描述:
來源期刊:科儀新知
卷期:32:6=182 2011.06[民100.06]
頁次:頁84-90
日期:
20110600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
謝汎鈞(Hsieh, Fan-chun) 林炳宏(Lin, Ping-hung) 呂日清(Lu, Jih-ching)(20110600)。[真空幫浦抽氣性能檢測技術於半導體及光電產業之應用]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/5f/49/5f.html(2017/03/27瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/5f/49/5f.html
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