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後設資料
資料識別:
A11033903
資料類型:
期刊論文
著作者:
謝文達(Hsieh, Wen-dar) 吳忠霖(Wu, Chung-lin)
主題與關鍵字:
特性化 零件平均測試 電氣分佈 Characterization Part average test PAT Electrical distribution
描述:
來源期刊:電腦與通訊
卷期:140 2011.08[民100.08]
頁次:頁26-31
日期:
20110800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
謝文達(Hsieh, Wen-dar) 吳忠霖(Wu, Chung-lin)(20110800)。[AEC-Q100品質測試概述]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/5f/3f/97.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/5f/3f/97.html
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