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低溫多晶矽薄膜表面粗糙度光速光學檢測系統研發
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後設資料
資料識別:
A11002956
資料類型:
期刊論文
著作者:
郭啟全 趙金聖
主題與關鍵字:
光學檢測系統 低溫多晶矽薄膜 表面粗糙度
描述:
來源期刊:機電整合
卷期:149 2011.01[民100.01]
頁次:頁57-64
日期:
20110100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
郭啟全 趙金聖(20110100)。[低溫多晶矽薄膜表面粗糙度光速光學檢測系統研發]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/5f/2d/e6.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/5f/2d/e6.html
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