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Temperature Dependence of Substrate Currents of MOSFETs Under Different Drain and Gate Biases
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後設資料
資料識別:
A11026989
資料類型:
期刊論文
著作者:
Liu, Chuan-hsi Chen, Shuang-yuan Tu, Chia-hao Huang, Heng-sheng Chou, Sam Ko, Joe
主題與關鍵字:
Temperature MOSFETs Substrate current Hot-carrier
描述:
來源期刊:中國工程學刊
卷期:34:3 2011.04[民100.04]
頁次:頁441-448
日期:
20110400
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Liu, Chuan-hsi Chen, Shuang-yuan Tu, Chia-hao Huang, Heng-sheng Chou, Sam Ko, Joe(20110400)。[Temperature Dependence of Substrate Currents of MOSFETs Under Different Drain and Gate Biases]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/5f/21/1a.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/5f/21/1a.html
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