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積層陶瓷晶片電容器之端面弧度檢驗與製程管制之探討
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後設資料
資料識別:
C02043479
資料類型:
期刊論文
著作者:
林宏達
描述:
來源期刊:工程科技通訊
卷期:63 民91.08
頁次:頁58-61
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
林宏達(年代不詳)。[積層陶瓷晶片電容器之端面弧度檢驗與製程管制之探討]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/b3/ce.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/b3/ce.html
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