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典藏機構與計畫
公開徵選計畫
國立科學工藝博物館
電信網路架構文物數位典藏
中文名稱:電晶體測試儀
英文名稱:TRANSISTOR TESTER
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後設資料
資料識別:
登錄號:M0200607054
資料類型:
型式:實體物件
著作者:
製造者:HICKOK
主題與關鍵字:
類別:多工設備-工具儀器
描述:
功能或用途:電晶體測試儀可作電晶體的各項特性測試,包括電晶體的漏電電流(ICBO,ICEO)、電流增益(hfe)、電晶體共射、共基和共集三種接法的輸入、輸出特性及反饋特性;它亦可以測量電晶體的擊穿電壓、飽和電流等(撰寫者:葉茂川、李進財)。
製造地:美國(U.S.A.)
出版者:
國立科學工藝博物館
格式:
長寬高:27.2×22×16.7 cm
管理權:
國立科學工藝博物館
引用這筆典藏
引用資訊
HICKOK(年代不詳)。[中文名稱:電晶體測試儀]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/38/00.html(2024/01/23瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/38/00.html
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