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TEM三維斷層掃描顯像技術在高分子奈米複合材料之應用
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資料識別:
A10005508
資料類型:
期刊論文
著作者:
羅聖全(Lo, S. C.) 賴明偉(Lai, M. W.) 徐偉盛(Hsu, W. S.) 李世莉(Lee, S. R.) 陳淑貞(Chen, S. J.) 林麗娟(Lin, L. J.)
主題與關鍵字:
穿透式電子斷層掃描顯像技術 三維訊息遺漏 雙傾轉軸 雜訊消除 中間值過濾法 二值化 TEM tomography Missing wedge Dual-axis De-noise Median filtering Binarization
描述:
來源期刊:工業材料
卷期:277 2010.01[民99.01]
頁次:頁57-69
日期:
20100100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
羅聖全(Lo, S. C.) 賴明偉(Lai, M. W.) 徐偉盛(Hsu, W. S.) 李世莉(Lee, S. R.) 陳淑貞(Chen, S. J.) 林麗娟(Lin, L. J.)(20100100)。[TEM三維斷層掃描顯像技術在高分子奈米複合材料之應用]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/20/43.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/20/43.html
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