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Tip Profile Estimation of Scanned Probe Microscopy for Micro and Nano Surface Roughness Measurement
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後設資料
資料識別:
A10044457
資料類型:
期刊論文
著作者:
Chen, Jr-rung Chen, A. Chao-chang Liou, Huay-chung
主題與關鍵字:
Stylus tip reconstruction Surface roughness Atomic force microscopy
描述:
來源期刊:中國工程學刊
卷期:33:1 2010.01[民99.01]
頁次:頁63-70
日期:
20100100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Chen, Jr-rung Chen, A. Chao-chang Liou, Huay-chung(20100100)。[Tip Profile Estimation of Scanned Probe Microscopy for Micro and Nano Surface Roughness Measurement]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/15/ac.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/15/ac.html
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