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環氧成型模料對構裝後晶片可靠度的影響
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後設資料
資料識別:
A10041852
資料類型:
期刊論文
著作者:
林益生 許蓁容 何宗漢 伍玉真 鄧希哲
主題與關鍵字:
半導體構裝 環氧成型模料 銀膠 可靠度測試 EMC
描述:
來源期刊:工程科技與教育學刊
卷期:7:4 2010.10[民99.10]
頁次:頁532-545
日期:
20101000
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
林益生 許蓁容 何宗漢 伍玉真 鄧希哲(20101000)。[環氧成型模料對構裝後晶片可靠度的影響]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/0b/c1.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/0b/c1.html
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