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薄膜化學機械拋光殘留應力分析
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後設資料
資料識別:
A10041453
資料類型:
期刊論文
著作者:
傅尉恩 陳炤彰 林彥德
主題與關鍵字:
薄膜材料 化學機械拋光 殘留應力 X-ray低掠角繞射法
描述:
來源期刊:微系統暨奈米科技協會會刊
卷期:22 2009.12[民98.12]
頁次:頁19-26
日期:
20091200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
傅尉恩 陳炤彰 林彥德(20091200)。[薄膜化學機械拋光殘留應力分析]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/0a/38.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/56/0a/38.html
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