InP化學蝕刻與指狀透明金屬電極對正面耦光型光檢測器的效應
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- 資料識別：
- A10041046
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 楊奇達(Yang， Chyi-da) 雷伯薰(Lei， Po-hsun) 王琮民(Wang， Cong-min) 夏琳傑(Xia， Lin-jie) 龔育呈(Kung， Yu-cheng) 林佳德(Lin， Chia-te)
- 主題與關鍵字：
- 砷化銦鎵檢光器 化學蝕刻 光響應 銦鋅氧化物 InGaAs photodiode Chemical etching Responsivity Indium zinc oxide IZO
- 描述：
- 來源期刊:真空科技
- 卷期:23:3 2010.09[民99.09]
- 頁次:頁13-21
- 日期：
- 20100900
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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