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製作非揮發性記憶體之BiFeO₃薄膜表面粗糙度快速光學檢測系統研發
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後設資料
資料識別:
A10036077
資料類型:
期刊論文
著作者:
郭啟全(Kuo, C. C.) 趙金聖(Chao, C. S.)
主題與關鍵字:
光學檢測系統 鐵酸鉍薄膜 表面粗糙度 Optical inspection system BiFeO₃thin films BFO thin films Surface roughness
描述:
來源期刊:工業材料
卷期:285 2010.09[民99.09]
頁次:頁169-178
日期:
20100900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
郭啟全(Kuo, C. C.) 趙金聖(Chao, C. S.)(20100900)。[製作非揮發性記憶體之BiFeO₃薄膜表面粗糙度快速光學檢測系統研發]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/f1/c4.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/f1/c4.html
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