首頁
部落格
Facebook專頁
ENGLISH
珍藏特展
目錄導覽
技術體驗
成果網站資源
目錄導覽首頁
HOTKEY快速導覽
內容主題
典藏機構
進階搜尋
資源聯盟
首頁
目錄導覽
內容主題
新聞
國圖館藏期刊
首頁
目錄導覽
典藏機構與計畫
國家圖書館
國家圖書館期刊報紙典藏數位化計畫
以臨界角法結合CCD影像擷取技術作表面形貌量測之研究
推薦分享
資源連結
連結到原始資料
(您即將開啟新視窗離開本站)
後設資料
資料識別:
A10032487
資料類型:
期刊論文
著作者:
邱銘宏(Chiu, Ming-hung) 林振勤(Lin, Zhen-chin) 詹遠生(Chan, Yuan-sheng)
主題與關鍵字:
三維表面量測 角度偏向 反射率 臨界角原理 Three-dimension profile measurement Angular deviation Reflectance Critical angle theorem
描述:
來源期刊:技術學刊
卷期:25:3 2010.09[民99.09]
頁次:頁245-249
日期:
20100900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
邱銘宏(Chiu, Ming-hung) 林振勤(Lin, Zhen-chin) 詹遠生(Chan, Yuan-sheng)(20100900)。[以臨界角法結合CCD影像擷取技術作表面形貌量測之研究]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/e4/22.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/e4/22.html
評分與驗證
請為這筆數位資源評分
感謝您為這筆數位資源評分,為了讓資料更容易被檢索利用,請選擇和這項數位資源相關的詞彙:
CCD
反射率
三維
請填入更適合的關鍵詞
推薦藏品
基因、主體與後人文社會規範
中醫藥對慢性病毒性肝炎療效評估之研究
鉻磷酸鹽處理麻竹之保綠機制
洛神賦圖:一個傳統的形塑與發展
美學、民族誌與文學的文化功能:專訪嘉...
行動數位生活技術研發計畫成果與展望