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A Methodology with Selective Pattern Compression Schemes on Reducing Test Power and Test Volume
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後設資料
資料識別:
A10031938
資料類型:
期刊論文
著作者:
Lin, Chia-yi Lin, Hsiu-chuan Chen, Hung-ming
主題與關鍵字:
DFT Low power Scan chain Compression Test data volume
描述:
來源期刊:International Journal of Electrical Engineering
卷期:17:1 2010.02[民99.02]
頁次:頁75-88
日期:
20100200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Lin, Chia-yi Lin, Hsiu-chuan Chen, Hung-ming(20100200)。[A Methodology with Selective Pattern Compression Schemes on Reducing Test Power and Test Volume]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/e2/07.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/e2/07.html
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