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奈米光學檢測--高解析度近場光學顯微鏡的應用
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後設資料
資料識別:
A10027286
資料類型:
期刊論文
著作者:
朱仁佑(Chu, J. Y.)
主題與關鍵字:
散射式掃描近場光學顯微鏡 電漿子共振 奈米光學 藍光光碟 Scattering-type scanning near-field optical microscope s-SNOM Plasmon resonance Nano-optics Blue-ray disc
描述:
來源期刊:工業材料
卷期:283 2010.07[民99.07]
頁次:頁75-84
日期:
20100700
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
朱仁佑(Chu, J. Y.)(20100700)。[奈米光學檢測--高解析度近場光學顯微鏡的應用]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/cc/77.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/cc/77.html
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