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次世代平面顯示器使用之低溫多晶矽晶粒尺寸檢測技術
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後設資料
資料識別:
A10023971
資料類型:
期刊論文
著作者:
郭啟全
主題與關鍵字:
次世代平面顯示器 線上光學檢測 晶粒尺寸 低溫多晶矽膜 光學檢測技術
描述:
來源期刊:機電整合
卷期:143 2010.07[民99.07]
頁次:頁131-136
日期:
20100700
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
郭啟全(20100700)。[次世代平面顯示器使用之低溫多晶矽晶粒尺寸檢測技術]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/bf/da.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/bf/da.html
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