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由權利耗盡原則論合法專利物之使用界限:以專利物組裝與修復為中心
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資料識別:
A10020057
資料類型:
期刊論文
著作者:
沈宗倫(Shen, Chung-lun)
主題與關鍵字:
合法專利物 權利耗盡原則 多重授權金 半導體代工 重要特徵原則 必要侵害原則 利益之對稱性 主要或關鍵技術 次要或非關鍵技術 功能耗竭 Licensed patented products The exhaustion doctrine Double royalties Semi-conductor foundry The doctrine of essential features The repair-reconstruction dichotomy Patent symmetry Main technique Supporting technique Spentness
描述:
來源期刊:國立臺灣大學法學論叢
卷期:39:1 2010.03[民99.03]
頁次:頁287-352
日期:
20100300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
沈宗倫(Shen, Chung-lun)(20100300)。[由權利耗盡原則論合法專利物之使用界限:以專利物組裝與修復為中心]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/b0/e7.html(2017/03/25瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/b0/e7.html
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