兆赫輻射在半導體光電特性研究與成像檢測的應用

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A10001514
資料類型:
期刊論文
著作者:
黃正雄
主題與關鍵字:
兆赫輻射 半導體 光電特性 成像檢測
描述:
來源期刊:物理
卷期:31:2 2009.04[民98.04]
頁次:頁127-134
日期:
20090400
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

南科345kV地下電纜線路之規劃設計...
「探索亞洲」佛教造像精品介紹--印度...
物種生態誌
最近中國大陸考古的新發現
最高行政法院九十年度裁字第七九六號裁...
酸性離子液體觸媒在煉油及石化工業之應...