晶圓的專業健檢--欣銓晶圓測試服務
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- A10015685
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 簡禎富(Chien， Chen-fu) 史欽泰(Shih， Chintay) 陳亭蓁(Chen， Ting-chen)
- 主題與關鍵字：
- 半導體價值鏈 晶圓測試 虛擬測試廠 商業模式 創業家精神 Semiconductor value chain Wafer sorting Virtual testing house Business model Entrepreneurship
- 描述：
- 來源期刊:管理評論
- 卷期:29:2 2010.04[民99.04]
- 頁次:頁1-18+163-166
- 日期：
- 20100400
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
