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深溝式 DRAM 資料保存時間之測試方法與相關參數之設定
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資料識別:
A10013913
資料類型:
期刊論文
著作者:
王志弘(Wang, Chih-hung) 溫武義(Uen, Wu-yih)
主題與關鍵字:
資料保存時間 動態隨機存取記憶體 漏電機制 Retention time Dram Leakage mechanism
描述:
來源期刊:先進工程學刊
卷期:5:2 2010.04[民99.04]
頁次:頁129-136
日期:
20100400
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
王志弘(Wang, Chih-hung) 溫武義(Uen, Wu-yih)(20100400)。[深溝式 DRAM 資料保存時間之測試方法與相關參數之設定]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/95/47.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/95/47.html
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