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Characterizing the Performance of Eddy Current Probes Using Photoinductive Field-mapping: A Numerical Approach
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後設資料
資料識別:
A10013227
資料類型:
期刊論文
著作者:
Tai, Cheng-chi Pan, Yen-lin
主題與關鍵字:
Coil tilt Eddy current testing ECT Finite element method FEM Nondestructive testing NDT Photoinductive imaging PI
描述:
來源期刊:International Journal of Applied Science and Engineering
卷期:6:3 2009.02[民98.02]
頁次:頁215-221
日期:
20090200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Tai, Cheng-chi Pan, Yen-lin(20090200)。[Characterizing the Performance of Eddy Current Probes Using Photoinductive Field-mapping: A Numerical Approach]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/92/ad.html(2024/09/15瀏覽)。
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http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/92/ad.html
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