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檢測光源角度對於低溫多晶矽膜再結晶特性影響之研究與分析
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後設資料
資料識別:
A09073821
資料類型:
期刊論文
著作者:
郭啟全
主題與關鍵字:
線上光學檢測系統 檢測光源角度 準分子雷射退火 矽膜再結晶特性
描述:
來源期刊:電子月刊
卷期:15:11=172 2009.11[民98.11]
頁次:頁140-149
日期:
20091100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
郭啟全(20091100)。[檢測光源角度對於低溫多晶矽膜再結晶特性影響之研究與分析]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/77/56.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/77/56.html
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