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矽晶片與低介電材料之介面應變能釋放率驗證分析
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後設資料
資料識別:
A09071340
資料類型:
期刊論文
著作者:
謝明哲 鄭智元 李暐 譚瑞敏
主題與關鍵字:
矽晶片 低介電材料 介面應變能釋放率 導通孔結構 TSV
描述:
來源期刊:電光先鋒
卷期:12 2009.08[民98.08]
頁次:頁67-74
日期:
20090800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
謝明哲 鄭智元 李暐 譚瑞敏(20090800)。[矽晶片與低介電材料之介面應變能釋放率驗證分析]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/68/63.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/68/63.html
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