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SoC內建抖動量測技術
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後設資料
資料識別:
A09005493
資料類型:
期刊論文
著作者:
趙安生 張順志
主題與關鍵字:
抖動 內建自我測試 鎖相迴路 Jitter Built-in self test BIST Phase-locked loop PLL
描述:
來源期刊:電子月刊
卷期:14:10=159 2008.10[民97.10]
頁次:頁155-168
日期:
20081000
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
趙安生 張順志(20081000)。[SoC內建抖動量測技術]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/41/c2.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/41/c2.html
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