系統晶片之測試
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- 資料識別：
- A09005478
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 吳明學
- 主題與關鍵字：
- 系統晶片測試 延遲錯誤 高速測試 記憶體自我測試 IEEE 1149.1 IEEE 1500
- 描述：
- 來源期刊:電子月刊
- 卷期:14:10=159 2008.10[民97.10]
- 頁次:頁138-144
- 日期：
- 20081000
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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- 管理單位：知識服務組-期刊
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