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Tuning Test Voltages and Frequencies of Test Program to Save Test Time of Flash Memories
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資料識別:
A09061077
資料類型:
期刊論文
著作者:
Chen, Shuang-yuan Chen, Hung-wen Tu, Chia-hao Ho, Shao-min Shie, Lie-chia Haung, Heng-sheng
主題與關鍵字:
Test time reduction TTR Flash memory Memory testing
描述:
來源期刊:Tamkang Journal of Science and Engineering
卷期:11:1 2008.03[民97.03]
頁次:頁1-5
日期:
20080300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Chen, Shuang-yuan Chen, Hung-wen Tu, Chia-hao Ho, Shao-min Shie, Lie-chia Haung, Heng-sheng(20080300)。[Tuning Test Voltages and Frequencies of Test Program to Save Test Time of Flash Memories]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/3d/d0.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/55/3d/d0.html
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