自動化光學檢測應用於晶粒表面瑕疵檢測
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- A09046365
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 魏子軒
- 描述：
- 來源期刊:國研科技
- 卷期:22 2009.04[民98.04]
- 頁次:頁87-93
- 日期：
- 20090400
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
