以田口式品質工程對原子力顯微鏡探針之可控因子作最適設計

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資料識別:
A09043818
資料類型:
期刊論文
著作者:
潘吉祥(Pan, Chi-hsiang) 黃美玲(Huang, Mei-ling) 張家碩(Chang, Chia-shuo)
主題與關鍵字:
原子力顯微鏡 探針 可控因子 田口式品質工程 Atomic force microscope AFM Probe Controllable factors Taguchi methods
描述:
來源期刊:品質學報
卷期:13:1 民95.03
頁次:頁35-44
日期:
20060300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

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管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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