即時薄膜光學檢測之光譜分析

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資料識別:
A09042736
資料類型:
期刊論文
著作者:
郭啟全
主題與關鍵字:
矽膜 準分子雷射退火 光學檢測 光譜分析 Silicon thin films Excimer laser annealing Optical inspection Spectrum analysis
描述:
來源期刊:電子月刊
卷期:15:3=164 2009.03[民98.03]
頁次:頁139-150
日期:
20090300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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