系統晶片測試之掃描鏈重序設計
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- 資料識別：
- A09014435
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 王維倫(Wang， Wei-lun)
- 主題與關鍵字：
- 系統晶片測試 掃描鏈 線性迴授位移暫存器 重新排序 System-on-chip testing SOC testing Scan chain Linear feedback shift register LFSR Reordering
- 描述：
- 來源期刊:國立高雄海洋科技大學學報
- 卷期:23 2009.02[民98.02]
- 頁次:頁111-120
- 日期：
- 20090200
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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- 管理單位：知識服務組-期刊
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