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以厚子力顯微鏡為量測基礎之快速奈米定位控制器設計暨微動態模型分析
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後設資料
資料識別:
C04064501
資料類型:
期刊論文
著作者:
黃宜正 林茂雄
描述:
來源期刊:工程科技通訊
卷期:77 民93.12
頁次:頁189-193
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
黃宜正 林茂雄(年代不詳)。[以厚子力顯微鏡為量測基礎之快速奈米定位控制器設計暨微動態模型分析]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/54/46/a5.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/54/46/a5.html
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