半導體測試專欄--如何降低測試成本及達成量產目標藍光雷射SoC測試大不易
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- C04060618
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- Blair，Do Gunji，Keita
- 描述：
- 來源期刊:新電子科技
- 卷期:224 民93.11
- 頁次:頁90-96
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
