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半導體測試專欄--如何降低測試成本及達成量產目標藍光雷射SoC測試大不易
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後設資料
資料識別:
C04060618
資料類型:
期刊論文
著作者:
Blair,Do Gunji,Keita
描述:
來源期刊:新電子科技
卷期:224 民93.11
頁次:頁90-96
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Blair,Do Gunji,Keita(年代不詳)。[半導體測試專欄--如何降低測試成本及達成量產目標藍光雷射SoC測試大不易]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/54/37/b6.html(2017/03/25瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/54/37/b6.html
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