微細化電路失效現象及離子遷移測試方法之探討
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- 資料識別：
- A07004324
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 陳華娉(Chen， H. P.) 劉恒廷(Liu， H. T.) 郭厚昌(Kuo， H. C.) 楊志輝(Yang， C. H.)
- 主題與關鍵字：
- 離子遷移 表面絕緣電阻 微細化 Ion migration Surface insulation resistance SIR Fine pitch
- 描述：
- 來源期刊:工業材料
- 卷期:240 民95.12
- 頁次:頁166-178
- 日期：
- 20061200
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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