首頁
部落格
Facebook專頁
ENGLISH
珍藏特展
目錄導覽
技術體驗
成果網站資源
目錄導覽首頁
HOTKEY快速導覽
內容主題
典藏機構
進階搜尋
資源聯盟
首頁
目錄導覽
內容主題
新聞
國圖館藏期刊
首頁
目錄導覽
典藏機構與計畫
國家圖書館
國家圖書館期刊報紙典藏數位化計畫
淺談應用於半導體元件電性分析的快速暫態量測
推薦分享
資源連結
連結到原始資料
(您即將開啟新視窗離開本站)
後設資料
資料識別:
A07004190
資料類型:
期刊論文
著作者:
詹前泰
主題與關鍵字:
半導體元件 電性分析 快速暫態量測 非揮發性記憶體 MOSFETs
描述:
來源期刊:電子月刊
卷期:12:10=135 民95.10
頁次:頁160-166
日期:
20061000
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
詹前泰(20061000)。[淺談應用於半導體元件電性分析的快速暫態量測]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/51/e9/8f.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/51/e9/8f.html
評分與驗證
請為這筆數位資源評分
感謝您為這筆數位資源評分,為了讓資料更容易被檢索利用,請選擇和這項數位資源相關的詞彙:
電性分析
半導體
請填入更適合的關鍵詞
推薦藏品
硼含量對AlCoCrFe₂NiMo□...
倫敦國家畫廊西歐繪畫的研究
臺灣特有種植物與藥用資源調查研究
十七個灰樹花菌株遺傳多樣性的ISSR...
挪威對於養殖魚類之安全、衛生及基改飼...
撥號選接器監測與管理系統之發展