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The Analysis on the Offset Error of Cross-section Contour by Using the Simulated Measurement Model of Atomic Force Microscopy
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資料識別:
A07036950
資料類型:
期刊論文
著作者:
林榮慶(Lin, Zone-ching) 黃仁清(Huang, Jen-ching) 曾柏展(Zeng, Bo-jhan)
主題與關鍵字:
Atomic force microscopy Morse potential Constant force mode Cross-section angle 原子力顯微鏡 奈米級量測
描述:
來源期刊:中國機械工程學刊
卷期:28:1 2007.02[民96.02]
頁次:頁23-33
日期:
20070200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
林榮慶(Lin, Zone-ching) 黃仁清(Huang, Jen-ching) 曾柏展(Zeng, Bo-jhan)(20070200)。[The Analysis on the Offset Error of Cross-section Contour by Using the Simulated Measurement Model of Atomic Force Microscopy]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/51/b5/9b.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/51/b5/9b.html
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