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以嶄新之隨機存取掃描測試架構減少峰值功率,測試資料與時間
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資料識別:
A07106901
資料類型:
期刊論文
著作者:
何威毅 陳振岸 黃宗柱
主題與關鍵字:
系統晶片測試 隨機存取掃描 突波 測試向量 SoC test Random access scan RAS Glitch Peak power Test vector
描述:
來源期刊:勤益學報
卷期:25 2007.12[民96.12]
頁次:頁(附)15-(附)20
日期:
20071200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
何威毅 陳振岸 黃宗柱(20071200)。[以嶄新之隨機存取掃描測試架構減少峰值功率,測試資料與時間]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/51/36/16.html(2017/03/26瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/51/36/16.html
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