以嶄新之隨機存取掃描測試架構減少峰值功率，測試資料與時間
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- 資料識別：
- A07106901
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 何威毅 陳振岸 黃宗柱
- 主題與關鍵字：
- 系統晶片測試 隨機存取掃描 突波 測試向量 SoC test Random access scan RAS Glitch Peak power Test vector
- 描述：
- 來源期刊:勤益學報
- 卷期:25 2007.12[民96.12]
- 頁次:頁(附)15-(附)20
- 日期：
- 20071200
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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