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A Modified Inject-and-Evaluate Paradigm for Diagnosing Gate-Delay Faults
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後設資料
資料識別:
A06083284
資料類型:
期刊論文
著作者:
Wang, Horng-bin Huang, Shi-yu Huang, Jing-reng
主題與關鍵字:
Fault diagnosis Gate-delay fault Inject-and-evaluate Backtrace Simulation
描述:
來源期刊:International Journal of Electrical Engineering
卷期:13:2 民95.05
頁次:頁185-191
日期:
20060500
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Wang, Horng-bin Huang, Shi-yu Huang, Jing-reng(20060500)。[A Modified Inject-and-Evaluate Paradigm for Diagnosing Gate-Delay Faults]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4d/41/c1.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4d/41/c1.html
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