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Applying Artificial Neural Network to Semiconductor Planarization Process Forecasting and Monitoring Functions
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資料識別:
A06069354
資料類型:
期刊論文
著作者:
田效文(Tien, Shiaw-wen) 謝家祥(Hsieh, Chia-hsiang) 鍾宜展(Chung, Yi-chan) 蔡志弘(Tsai, Chih-hung) 王志宏(Wang, Chih-hong)
主題與關鍵字:
半導體製程平坦化 類神經網路 Planarization process Artificial neural network
描述:
來源期刊:品質學報
卷期:12:4 民94.12
頁次:頁273-284
日期:
20051200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
田效文(Tien, Shiaw-wen) 謝家祥(Hsieh, Chia-hsiang) 鍾宜展(Chung, Yi-chan) 蔡志弘(Tsai, Chih-hung) 王志宏(Wang, Chih-hong)(20051200)。[Applying Artificial Neural Network to Semiconductor Planarization Process Forecasting and Monitoring Functions]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4d/03/bc.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4d/03/bc.html
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