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A Novel Stack Structure to Improve the Effect of W-Polycide Gate on MOS Device Degradation with Un-doped α-Si/Heavy-Doped Poly-Si MultiLayer
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後設資料
資料識別:
A06049856
資料類型:
期刊論文
著作者:
陳啟文(Chen, Chii-wen)
主題與關鍵字:
氟 介面能態 鎢複晶矽 氮氧化物 電荷幫浦注入 Fluorine Interface state Tungsten polycide α-Si layer
描述:
來源期刊:明新學報
卷期:16 民85.06
頁次:頁87-92
日期:
19960600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
陳啟文(Chen, Chii-wen)(19960600)。[A Novel Stack Structure to Improve the Effect of W-Polycide Gate on MOS Device Degradation with Un-doped α-Si/Heavy-Doped Poly-Si MultiLayer]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4c/b0/17.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4c/b0/17.html
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