A Novel Stack Structure to Improve the Effect of W-Polycide Gate on MOS Device Degradation with Un-doped α-Si/Heavy-Doped Poly-Si MultiLayer

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A06049856
資料類型:
期刊論文
著作者:
陳啟文(Chen, Chii-wen)
主題與關鍵字:
氟 介面能態 鎢複晶矽 氮氧化物 電荷幫浦注入 Fluorine Interface state Tungsten polycide α-Si layer
描述:
來源期刊:明新學報
卷期:16 民85.06
頁次:頁87-92
日期:
19960600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

微結構分析技術之介紹
鉻磷酸鹽處理麻竹之保綠機制
中國佛學的發展結構與詮釋方法論--創...
硼含量對AlCoCrFe₂NiMo□...
南科345kV地下電纜線路之規劃設計...
試介李勤岸、胡民祥、莊柏林、路寒袖、...