Impact of High Temperature Thermal Cycle on the Characteristics of Thin Film Transistor in ULSI Technology

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資料識別:
A06049481
資料類型:
期刊論文
著作者:
陳啟文(Chen, Chii-wen) 吳明瑞(Wu, Ming-ray)
主題與關鍵字:
複晶矽 薄膜電晶體 爐管退火 快速升溫退火 靜態隨機存取記憶體 Polysilicon TFT Furnace annealing RTA High temperature annealing SRAM
描述:
來源期刊:明新學報
卷期:21 民87.12
頁次:頁149-155
日期:
19981200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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