Process Capability Analysis in Semiconductor Manufacturing

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後設資料

資料識別:
A06044800
資料類型:
期刊論文
著作者:
Liu, Pei-hsi Chen, Fei-long
主題與關鍵字:
Process capability indices Semiconductor manufacturing Yield enhancement
描述:
來源期刊:品質學報
卷期:11:4 民93.12
頁次:頁319-331
日期:
20041200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

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管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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