電漿量測技術介紹
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- A06043681
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 張家豪(Chang， C. H.) 柳克強(Liu， K. C.)
- 主題與關鍵字：
- 電漿量測 蘭牟爾探針 射頻補償 微波干涉儀 Plasma diagnostic Langmuir probe RF compensation Microwave interferometer
- 描述：
- 來源期刊:工業材料
- 卷期:232 民95.04
- 頁次:頁107-111
- 日期：
- 20060400
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
