晶圓測試廠產能規劃研究
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- 資料識別：
- A06041692
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 陳建良(Chen， James C.) 蕭俊彥(Shiau， Jiun-yan) 孫正儒(Sun， Cheng-ju) 呂春美(Lu， Chun-mi)
- 主題與關鍵字：
- 積體電路製造 晶圓測試 產能規劃 無限產能 IC manufacturing Wafer probe Capacity planning Infinite capacity
- 描述：
- 來源期刊:中原學報
- 卷期:33:3 民94.09
- 頁次:頁495-511
- 日期：
- 20050900
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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