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高可靠度產品壽命預估--以發光二極體為例
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後設資料
資料識別:
A06040725
資料類型:
期刊論文
著作者:
蘇朝墩(Su, Chao-ton) 陳麗妃(Chen, Lee-fei) 彭鴻霖(Perng, Horng-linn)
主題與關鍵字:
可靠度 壽命預估 加速衰退試驗 類神經網路 迴歸分析 Life forecasting Reliablilty Accelerated degradation test Artificial neural network Regression
描述:
來源期刊:品質學報
卷期:5:1 民87.06
頁次:頁27-51
日期:
19980600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
蘇朝墩(Su, Chao-ton) 陳麗妃(Chen, Lee-fei) 彭鴻霖(Perng, Horng-linn)(19980600)。[高可靠度產品壽命預估--以發光二極體為例]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4c/8c/82.html(2017/03/24瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4c/8c/82.html
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