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淺談Negative Bias Temperature Instability (NBTI)
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後設資料
資料識別:
A06034813
資料類型:
期刊論文
著作者:
李介文
主題與關鍵字:
可靠度 積體電路 奈米電子 負偏壓溫度不穩定效應 NBTI
描述:
來源期刊:奈米通訊
卷期:13:1 民95.02
頁次:頁45-48
日期:
20060200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
李介文(20060200)。[淺談Negative Bias Temperature Instability (NBTI)]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4c/71/a1.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4c/71/a1.html
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