先進DBFIB/FETEM之檢測技術應用在奈米材料、相變化記憶體與顯示器元件(下)
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- 資料識別：
- A06033177
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 羅聖全(Lo， S. C.) 林明為(Lin， M. W.) 江正誠(Chiang， C. C.) 林智仁(Lin， C. J.) 陳淑貞(Chen， S. J.) 林麗娟(Lin， L. J.)
- 主題與關鍵字：
- 場發射穿透式電子顯微鏡 雙粒子束聚焦式離子束顯微切割儀 電子能量損失譜儀 奈米材料 相變化記憶體 有機薄膜電晶體 Field emission transmission electron microscopy FETEM Dualbeam focused ion beam DBFIB Electron energy loss spectrometer Nano-materials Phase change memory Organic thin-film transistor OTFT
- 描述：
- 來源期刊:工業材料
- 卷期:231 民95.03
- 頁次:頁172-180
- 日期：
- 20060300
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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