可測試設計技術
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- A06030965
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 陳繼展(Chen， Ji-jan) 林森田(Lin， Shen-tien) 何榮基(Ho， Jung-chi) 李嘉仁(Lee， Chia-jen) 劉威廷(Liu， Wei-ting) 蘇錦榮(Su， Chin-lung) 羅崑崙(Luo， Kun-lun) 張永嘉(Chang， Yeong-jar)
- 主題與關鍵字：
- 可測試設計 類比/混合訊號電路的內建自我測試技術 記憶體測試技術 系統晶片測試架構
- 描述：
- 來源期刊:系統晶片
- 卷期:1 民93.10
- 頁次:頁46-60
- 日期：
- 20041000
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
