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邊界元素法分析電子構裝之層面熱應力
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資料識別:
A06022640
資料類型:
期刊論文
著作者:
夏育群(Shiah, Y.C.)
主題與關鍵字:
覆晶 內部熱偶合邊界元素法 充填膠 基板 Flip chip BEM's inter-coupled treatment of interfacial thermal stress Underfill Substrate
描述:
來源期刊:臺北科技大學學報
卷期:38:2 民94.09
頁次:頁103-114
日期:
20050900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
夏育群(Shiah, Y.C.)(20050900)。[邊界元素法分析電子構裝之層面熱應力]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4c/3e/b6.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4c/3e/b6.html
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